第四期PHI SIMS云端用户培训
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第三期PHI TOF-SIMS/D-SIMS云端讲堂②
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第四期PHI XPS 用户云端培训②
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第三期PHI TOF-SIMS/D-SIMS云端讲堂③
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第三期PHI TOF-SIMS/D-SIMS云端讲堂①
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第四期PHI XPS用户云端培训③
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第四期PHI XPS用户云端培训⑤
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第四期PHI XPS用户云端培训④
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第四期PHI XPS用户云端培训①
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第三期PHI TOF-SIMS/D-SIMS云端讲堂④
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杨欧 应用工程师--TOF-SIMS 和D-SIMS在多学科领域的应用
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PHI欧洲线上研讨会-Correlative TOF-SIMS and XPS analysis for nano and optoelectronic
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PHI表面分析讲堂-能源材料化学专题
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质量控制与失效分析的利器-PHI 5000 VersaProbe XPS/AES
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鞠焕鑫 博士 PHI CHINA--无损深度分析技术（HAXPES）在表界面研究中的应用
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PHI欧洲线上研讨会--New developments and applications using TOF-SIMS
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PHI表面分析讲堂-TDK东莞新科材料分析中心③
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不忘初心，创无止境| PHI XPS-全面高性能电子结构综合分析平台-2
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不忘初心，创无止境| PHI XPS-全面高性能电子结构综合分析平台-1
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不忘初心，创无止境| PHI XPS-全面高性能电子结构综合分析平台 -3
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鞠焕鑫 博士 PHI CHINA--荷电中和技术及差分荷电问题探讨
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PHI-CHINA表面分析网络课堂（20200305第七堂）鞠焕鑫
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PHI-CHINA表面分析网络课堂（202003013俄歇专题第三堂）叶上远
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丁志琴 工程师 PHI CHINA--AES 高空间分辨能力及应用
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PHI欧洲线上研讨会-Application of AES
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PHI-CHINA表面分析网络课堂（202003026飞行时间二次离子质谱专题第三堂）张熏匀
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PHI-CHINA表面分析网络课堂（20200220第一堂）鞠焕鑫
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PHI欧洲线上研讨会-Application of XPS and AES for Materials Characterization at Chalmers
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PHI表面分析讲堂-TDK东莞新科材料分析中心②
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PHI欧洲线上研讨会--Application of Scanning XPS/HAXPES Instrument for the Charact
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PHI欧洲线上研讨会--Thin Film XPS and UPS Studies for Semiconductor Device Applications
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张学强 教授--近常压 X 射线光电子能谱 原位探测界面重构现象
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PHI表面分析讲堂-TDK东莞新科材料分析中心④
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PHI欧洲线上研讨会-XPS on battery materials – hurdles and caveats
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PHI-CHINA表面分析网络课堂（20200306第八堂）鞠焕鑫
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PHI-CHINA表面分析网络课堂（20200221第二堂）鞠焕鑫
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20200213PHI表面分析大讲堂第三堂：鲁德凤--XPS谱图特点及利用Multipak软件进行数据处理
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PHI欧洲线上研讨会--Lab-scale Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES)
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PHI欧洲线上研讨会-Successes and challenges in the investigation of tribological systems
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PHI-CHINA表面分析网络课堂（20200227第四堂）叶上远
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张娟 工程师 南方科技大学--XPS 测试技术的操作及案例分享