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第四期PHI SIMS云端用户培训
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日本ULVAC-PHI分析实验室的高级首席科学家Shinichi Iida讲解TOF SIMS技术原理及数据处理
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第三期PHI TOF-SIMS/D-SIMS云端讲堂②
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第三期PHI TOF-SIMS/D-SIMS云端讲堂④
杨欧 应用工程师--TOF-SIMS 和D-SIMS在多学科领域的应用
PHI欧洲线上研讨会-Correlative TOF-SIMS and XPS analysis for nano and optoelectronic
PHI表面分析讲堂-能源材料化学专题
质量控制与失效分析的利器-PHI 5000 VersaProbe XPS/AES
鞠焕鑫 博士 PHI CHINA--无损深度分析技术(HAXPES)在表界面研究中的应用
PHI欧洲线上研讨会--New developments and applications using TOF-SIMS
PHI表面分析讲堂-TDK东莞新科材料分析中心③
不忘初心,创无止境| PHI XPS-全面高性能电子结构综合分析平台-2
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鞠焕鑫 博士 PHI CHINA--荷电中和技术及差分荷电问题探讨
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PHI-CHINA表面分析网络课堂(202003013俄歇专题第三堂)叶上远
丁志琴 工程师 PHI CHINA--AES 高空间分辨能力及应用
PHI欧洲线上研讨会-Application of AES
PHI-CHINA表面分析网络课堂(202003026飞行时间二次离子质谱专题第三堂)张熏匀
PHI-CHINA表面分析网络课堂(20200220第一堂)鞠焕鑫
PHI欧洲线上研讨会-Application of XPS and AES for Materials Characterization at Chalmers
PHI表面分析讲堂-TDK东莞新科材料分析中心②
PHI欧洲线上研讨会--Application of Scanning XPS/HAXPES Instrument for the Charact
PHI欧洲线上研讨会--Thin Film XPS and UPS Studies for Semiconductor Device Applications
张学强 教授--近常压 X 射线光电子能谱 原位探测界面重构现象
PHI表面分析讲堂-TDK东莞新科材料分析中心④
PHI欧洲线上研讨会-XPS on battery materials – hurdles and caveats
PHI-CHINA表面分析网络课堂(20200306第八堂)鞠焕鑫
PHI-CHINA表面分析网络课堂(20200221第二堂)鞠焕鑫
20200213PHI表面分析大讲堂第三堂:鲁德凤--XPS谱图特点及利用Multipak软件进行数据处理
PHI欧洲线上研讨会--Lab-scale Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES)
PHI欧洲线上研讨会-Successes and challenges in the investigation of tribological systems
PHI-CHINA表面分析网络课堂(20200227第四堂)叶上远
张娟 工程师 南方科技大学--XPS 测试技术的操作及案例分享