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全新多功能材料微区原位表征系统——可实现同位置,同界面的SEM和AFM综合测量
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咨询入口:https://www.wenjuan.com/s/qquqayr/?group=B%E7%AB%99 多功能材料微区原位表征系统-FusionScope,将SEM和AFM技术融合在一台设备上。用户不需要将样品从一台显微镜移动到另一台显微镜,也不必使用两个不同的操作系统来分析样品上的同一位置,而是在同一用户界面内、同一位置进行互补性综合测量。 FusionScope提供了带有SEM功能的原子力显微镜的所有优点。它能够实现标准AFM的测量模式,包括接触、动态和FIRE模式(Finite Impulse Response Excitation )。只需单击按钮,即可在亚纳米分辨率下切换AFM和SEM成像模式,并获取所需的数据。通过更换悬臂,AFM可轻松实现高级工作模式,例如力曲线、导电原子力显微镜(C-AFM)和磁力显微镜(MFM)。 FusionScope同时提供EDS能谱仪选件,可以在扫描电镜中对样品进行元素和化学分析,在纳米及微米尺度上收集更准确的数据。结合已有的AFM/SEM,使测量更加多功能化。
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