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AES-3-俄歇电子能谱的主要技术能力
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AES（俄歇电子能谱）-1-主要能力和应用简介
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AES-2-俄歇电子产生的基本原理
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TOF-SIMS-1- 基本原理和主要技术能力
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材料表征技术-6-表面成分分析技术（AES, XPS, SIMS,SEM-EDS)对比
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材料表征常用技术-1-总述
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XPS图谱分析之-Cu2p 和 CuLMM 俄歇图谱分析（金属、氧化态）
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XPS图谱分析之-Ag3d 和AgMNN 俄歇图谱分析（金属、氧化态等）
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XPS图谱分析之-O1s 图谱分析（有机氧，晶格氧和空位氧等）
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UPS的原理和应用
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XPS分峰拟合原则-3-半峰宽FWHM设置原则
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2a-XPS的主要技术能力和数据类型
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XPS原理和认识图谱系列-3.俄歇谱峰的原理和标识
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Avantage 实操-S2p分峰拟合
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AES软件实操-1-MultiPak-俄歇图谱定性和半定量分析
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XPS图谱分析之-Cd3d 和 CdMNN 俄歇图谱分析（金属和氧化态）
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Multipak 实操-S2p分峰拟合
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AES主要功能和数据类型说明
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2b-XPS与其他技术能力的对比
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如何学习XPS技术-注意合集的逻辑顺序
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XPS原理和认识图谱系列-1.XPS基本原理和认识图谱
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S2p 图谱分析（硫、硫化物、硫酸盐等）
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MultiPak实操-全谱和精细谱元素定性和半定量
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XPS图谱分析之-In3d 和 In MNN 俄歇图谱分析（金属和氧化态）
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质谱MS技术-MALDI 基质辅助激光解吸电离质谱技术（英文原声中文字幕)
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Avantage实操-C1s 谱峰校正实操
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XPS图谱分析之-Zn2p 化学态归属和精细谱分析方法
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材料表征常用技术-4-电子、离子、X射线与样品作用原理
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MultiPak实操-深度剖析曲线-1-分峰拟合方法
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材料表征技术-5-表面分析技术解决的问题
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UPS图谱价带和功函测量实操-1-认识UPS图谱数据
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XPS的主要数据类型介绍
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TEM构造和原理
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Avantage 实操- 全谱和精细谱元素定性半定量
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Avantage 软件-解读元素半定量结果
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AES测试如何减少荷电效应
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Avantage 实操-C1s 谱峰拟合（有机，无机，氧化石墨烯）
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1b.XPS系统和主要应用
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XPS图谱分析之-Ni2p 金属和氧化态图谱分析
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Avantage实操-Fe2p精细谱-Fe2p常规分峰拟合
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XPS图谱分析之-Zr3d 化学态归属和精细谱分析方法