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AES（俄歇电子能谱）-1-主要能力和应用简介
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AES-2-俄歇电子产生的基本原理
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AES-3-俄歇电子能谱的主要技术能力
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UPS的原理和应用
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TOF-SIMS-1- 基本原理和主要技术能力
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1b.XPS系统和主要应用
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FTIR-PRINCIPLE 原理和主要应用（中文字幕英文原音）
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2a-XPS的主要技术能力和数据类型
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材料表征技术-6-表面成分分析技术（AES, XPS, SIMS,SEM-EDS)对比
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XPS图谱分析之-Cu2p 和 CuLMM 俄歇图谱分析（金属、氧化态）
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AES主要功能和数据类型说明
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XPS原理和认识图谱系列-3.俄歇谱峰的原理和标识
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XPS图谱分析之-O1s 图谱分析（有机氧，晶格氧和空位氧等）
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XPS分峰拟合原则-5-双峰拟合-注意自旋轨道分裂峰
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材料表征常用技术-2-应用、空间分辨和检出限
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XPS图谱分析之-Ag3d 和AgMNN 俄歇图谱分析（金属、氧化态等）
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XPS分峰拟合原则-1-谱峰平滑处理
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AES软件实操-1-MultiPak-俄歇图谱定性和半定量分析
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XPS原理和认识图谱系列-1.XPS基本原理和认识图谱
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XPS图谱分析之-Cd3d 和 CdMNN 俄歇图谱分析（金属和氧化态）
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如何学习XPS技术-注意合集的逻辑顺序
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S2p 图谱分析（硫、硫化物、硫酸盐等）
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材料表征常用技术-4-电子、离子、X射线与样品作用原理
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2b-XPS与其他技术能力的对比
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TEM构造和原理
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MultiPak实操-深度剖析曲线-1-分峰拟合方法
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XPS的主要数据类型介绍
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材料表征常用技术-1-总述
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材料表征技术-5-表面分析技术解决的问题
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质谱技术简介（MS-Mass Spectrometry）（英文原音中文字幕）
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常见质谱的区别和应用（GC-MS,LC-MS,GD-MS,ICP-MS,TOF-SIMS etc)
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XPS原理和认识图谱系列-2.谱峰标识和自旋轨道分裂峰
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质谱MS技术-Quadrupole 四级杆质谱分析原理（英文原音中文字幕）
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LC-MS 工作原理简述-检测农药示例
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XPS图谱分析之-In3d 和 In MNN 俄歇图谱分析（金属和氧化态）
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质谱MS技术-Magnetic Sector 磁质分析器原理（英文原音中文字幕）
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质谱MS技术-Chemical Ionization 化学电离方法（英文原音中文字幕）
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质谱MS技术-GC-MS气相质谱的工作原理（英文原音中文字幕）
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XPS图谱分析之-Zr3d 化学态归属和精细谱分析方法
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MultiPak实操-全谱和精细谱元素定性和半定量
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TOF-SIMS TOF-DR软件操作-2-质谱质量范围和强度调整