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芯片失效分析方法与流程
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芯片失效分析方法与流程介绍-FA赵工 简 介: 失效分析方法; 失效分析流程; 失效分析案例; 失效分析实验室介绍。 分享时长:45分钟 主 讲人:赵工擅长领域集成电路失效分析FIB,EMMI,SAT,Decap,X-RAY,IV,SEM,EDX,Probe,OM,Rie等,欢迎各集成电路企事业单位交流探讨。
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