1.4 FT测试：芯片级测试
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1.2 CP测试：晶圆级测试
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2.3 第三部分：ATE机台分类简介
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(四)测试机介绍
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(六)ProbeCard(探针卡)
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芯片测试OS下
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(十一)DC测试-Part2
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(九)开尔文测试(Kelvin Test)
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1.5 SLT测试：系统级测试
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(八)OpenShort测试
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1.1 芯片制造：从沙子到晶圆
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芯片失效分析方法与流程
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(五)Prober&Handler
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两分钟讲明白什么是芯片测试
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3.1_1 第一部分：UltraFLEX系统功能介绍
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芯片ATE测试公开课--UltraFLEX机台与IGXL软件介绍
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芯片ATE测试速成公开课
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芯片封装测试流程
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(七)LoadBoard&Socket
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芯片相关岗位介绍
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2.2 第二部分：ATE的基本概念