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SanBlaze DT5针对PCIe Gen5 SSD硬件实物展示+软件界面讲解(中文)
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一款PCIe Gen5 NVMe SSD在推出到市场正式销售前要做大量的测试,保证产品的性能、功能、可靠性、兼容性得到充分的验证和测试,对于各类故障等的异常处理等要非常可靠,否则将面临来自市场和最终用户的各种压力。 SanBlaze公司的DT5 (Desktop PCIe Gen5)测试平台作为SSD全球业界最受欢迎的测试设备,其专用的硬件设计、独特的功能以及丰富的测试用例,保证了SSD测试可以获得最全面的测试。其在去年推出的FDP(Flexible Data Placement )测试用例,以及基于全新硬件设计的iRiser提供10ns级别的故障注入,可以模拟各种之前可能无法模拟的异常和故障,具体可以参见《PCIe5&6.0, CXL, NVMe, NAND, DDR5测试技术和工具白皮书Ver 10.2》pdf文件的3.8章节的详细介绍,下面是针对iRiser的一个简要说明。如果想较多了解该iRiser的更多信息,请点解左下角的“阅读原文”留言,我们将根据留言情况决定是否要做一期针对iRiser的专门介绍。 “iRiser5 能够精确控制从 NVMe SSD到主机的数据路径中的 PCIe 通道以及复位 (PERST) 和电源等带外信号,使用户能够设计专门针对其测试需求的测试场景, ”SANBlaze 总裁文斯·阿斯布里奇 (Vince Asbridge) 说道。“获得专利的 SANBlaze iRiser5 能够以每秒高达 百万个采样的速度监控SSD盘功率,在SSD盘上线并处理重置或电源周期时提供近乎实时的功率响应。”受控制的信号彼此之间的间隔为 80nS,从而使用户能够最终控制复杂的测试场景,例如ASSERT后在特定时间进行SSD盘重置。 “SANBlaze FPGA 控制的 iRiser5 器件能够以非常精细的间隔实现背靠背信号毛刺注入,目前市场上无其它可以实现,”SANBlaze 高级副总裁 Rick Walsh 说道。“这项最先进的技术基于 SANBlaze 独家专利,旨在满足客户对测试控制和精确功率测量的需求。” Gen5 PCIe 通道受 iRiser5 控制,“故障”速度可达 10nS,允许在 PCIe 上故意注入错误。PCIe 通道可以在软件控制下启用和禁用,以便可以设计测试来禁用连接到 NVMe 设备的四个通道中的任何一个或全部,以测试对 PCIe 子系统实际故障的响应。 业内主力SSD公司都在使用SanBlaze Gen5测试设备进行测试,包括Samsung, SK Hynix, Kioxia, Solidign (Intel), Micron, Marvell, Microchip, SMI, Phison等等。下面的30min的视频采用中文讲解了DT5的主要功能,包括硬件、WebGUI软件,以及SanBlaze Express Manager测试用例。 封页 0~3” 硬件展示 3“~3’0” 软件基本界面介绍 3’0”~25’54“ SBExpress Manager用例介绍 25’54“~36‘16“ SanBlaze DT5非常适合下面几个测试场景: SSD开发、验证和测试 SSD产品导入测试(例如server, storage系统厂商的NPI产品导入部门) SSD产品产品购买前的对比分析和测试 (提供购买决策的技术支撑)
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