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京东 11.11 红包
NVMe和SAS/SATA SSD热插拔、故障注入、Sideband边带信号拉高/拉低测试实物演示
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我们前面做过一期《Ethernet/FC/Infiniband网络/PCIe/SAS各类线缆的热插拔+故障注入模块实物演示+软件界面介绍》,主要是针对各类线缆的热插拔测试,在NVMe SSD, SAS/SATA SSD以及传统的HDD领域,针对盘的热插拔是一个基本测试项目,目前使用场景主要存在下面集中典型场景: SSD控制器和盘的研发厂商 a. 企业级SSD 热插拔是基本功能,必须测试,包括NVMe U.2, U.3, E1.S, E1.L, E3.S, E3.L等几种,以及SAS/SATA SSD/HDD b. SSD卡或者M.2 SSD 一般在firmware固件开发阶段通过掉电、上电进行测试,或者对于信号导入故障和sideband拉高/拉低测试 2. 使用SSD做集成的各种场景 a. 存储服务器研发 前面板的24~48个企业级SSD热插拔是基本测试 b. 存储系统研发 每个盘柜(含机头,如果也包含SSD的话)的盘的热插拔是基本测试,这里可以模拟RAID卷如果1块(RAID 5)或者2块(RAID 6)拔出以及插入后对于整个系统的性能、延迟、可靠性的影响 c. SWITCH扩展卡研发 由于switch扩展卡支持连接多个企业级盘,热插拔也成为必测项目 d. RAID卡研发 这个主要验证RAID算法在各种正常热插拔、各类异常情况下是否可靠地工作。 上述的视频使用了最基础的1端口管理控制器 + U.2 SSD热插拔模块做了一个最精简的讲解。一般工程师使用的时候都是通过调用python API开发自动化测试脚本。
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