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【CEIA电子智造】管玉鑫 | 赛默飞全新SEM-EDS一体化实时分析技术介绍
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【2021CEIA电子智造郑州站论坛现场】 欧波同业务发展部经理 管玉鑫 《赛默飞全新SEM-EDS一体化实时分析技术介绍》 电子智能制造需要配套的智能化检测仪器进行失效分析,伴随着电子显微镜表征技术的发展,赛默飞推出了可用于实时元素分析的扫描电镜分析技术,在得到样品分析图像的同时,元素分析即刻完成,可助力元器件和PCB等显微分析,彻底提升了传统电镜元素分析效率低的局面。
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